TEM制样方法
制备透射电子显微镜（TEM）样品的方法有多种，以下是一些常见的制样方法：
1. 溶液相纳米颗粒
捞取法 ：使用特制镊子夹取载网，放入分散好的胶体溶液中，晃动后取出晾干。
滴液法 ：在滤纸上放置载网，用滴管滴加溶液，等待溶剂蒸发后取出。
2. 溶液分散-滴落法
对于小尺寸或微米颗粒样品，直接分散于溶液中，滴在直径为3mm的微栅或支撑膜上，等待溶剂挥发。
粉末状多相催化剂
1. 充分研磨 ：粉末样品需充分研磨以保证足够厚度，有时需研磨数小时。
2. 分散 ：研磨后分散于易挥发性溶剂（如乙醇、甲醇）中，超声处理。
支持膜法
1. 适用范围 ：纳米颗粒，防止样品从铜网缝隙中漏出。
2. 支持膜种类 ：微栅膜、FIB微栅膜、纯碳微栅膜等。
3. 制备过程 ：在铜网上覆盖有机膜后喷碳，分散粉末成悬浮液，滴在支持膜上。
超薄切片法
1. 适用范围 ：生物组织、较软的无机材料等。
2. 制备流程 ：取材、固定、漂洗、脱水、渗透、包埋、聚合、修块、切片、捞片染色、电镜观察。
离子减薄法
1. 适用范围 ：用于非金属材料或非均匀金属，通常作为TEM制样的最后环节。
2. 步骤 ：将样品制成薄片，放入离子减薄仪中，选择合适的工作电压和电流进行减薄。
电解抛光减薄法
1. 适用范围 ：金属样品，通过电化学作用使试样表面平整光洁。
2. 步骤 ：将样品磨抛至一定厚度后，装入电解抛光装置中进行抛光。
FIB技术
1. 定位准确 ：利用FIB找到目标位置结构，进行精确的刻蚀和减薄。
2. 制样速度快 ：适用于需要快速制备样品的场合。
复型法
1. 间接样品 ：通过复型技术将样品表面形态复制到另一个介质上，如醋酸纤维素薄膜。
2. 步骤 ：滴丙酮、覆盖A.C纸、干燥、剥离、喷涂碳、剪小方块、贴石蜡层、溶解A.C纸和石蜡，最后捞起碳膜。
注意事项
确保样品在溶液中均匀分散，不与溶液发生反应。
保持实验过程中未带入污染物。
选择合适的溶剂和分散剂，以保护样品的本征结构。
根据样品性质选择合适的制样方法。
以上方法中，有些适用于溶液相样品，有些适用于粉末状样品，而有些则适用于块状样品。选择合适的制样方法对于获得高质量的TEM图像至关重要。
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